特許
J-GLOBAL ID：201003010250803739

内面形状測定装置および内面形状測定方法

発明者：
藤村 清文

藤村 清文 について

, 
井本 治孝

井本 治孝 について


出願人/特許権者：
株式会社IHI

株式会社IHI について


代理人 (6件)： 三好 秀和 ,  岩▲崎▼ 幸邦 ,  川又 澄雄 ,  伊藤 正和 ,  高橋 俊一 ,  高松 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-004818
公開番号（公開出願番号）：特開2010-164334
出願日： 2009年01月13日
公開日（公表日）： 2010年07月29日
要約：
【課題】より簡単な構成で高精度の内面形状測定ができると共に、測定対象の内面形状が複雑な形状であってもより確実に測定を行い得る内面形状測定装置および内面形状測定方法を提供する。【解決手段】2台の撮像装置15,16により、ビーム発射手段(11,12)が発射する放射状光ビーム18が被測定物40の内面41に照射されてできる光跡を撮像し、演算処理装置30により、撮像装置15,16による光跡撮像画像と、ビーム発射手段および2台の撮像装置15,16の相対的位置関係とに基づき、ビーム発射手段の光学中心(基準位置)と被測定物40の内面41との距離を算出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
内部に空間を有する被測定物の該空間内面形状を測定する内面形状測定装置であって、 光ビームを放射状に発射するビーム発射手段と、 前記ビーム発射手段が発射する放射状光ビームを挟む両側に2つの視点を有し、該2つの視点から、互いに異なる方向に向けて、前記放射状光ビームが前記被測定物の空間内面に照射されてできる光跡を撮像する撮像手段と、 前記撮像手段による2つの視点からの光跡撮像画像と、前記ビーム発射手段および前記2つの視点の相対的位置関係とに基づき、前記ビーム発射手段の基準位置と被測定物の空間内面との距離を算出する演算手段と、 を有することを特徴とする内面形状測定装置。
IPC (1件)：
G01B 11/24
FI (1件)：
G01B11/24 B
Fターム (10件)：
2F065AA06 ,  2F065AA51 ,  2F065FF05 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM15 ,  2F065QQ00 ,  2F065RR06
引用特許：
審査官引用 (7件)
  • 特開昭63-055441
  • 刻印検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-243488   出願人：日本電産トーソク株式会社
  • 部品認識用標準データの生成装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-329158   出願人：三洋電機株式会社
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