特許
J-GLOBAL ID：201003038950084980

品質測定装置

発明者：
井上 雅弘

井上 雅弘 について

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重藤 和明

重藤 和明 について

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乙井 崇史

乙井 崇史 について

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大手山 達治

大手山 達治 について


出願人/特許権者：
財団法人雑賀技術研究所

財団法人雑賀技術研究所 について


代理人 (3件)： 柳野 隆生 ,  森岡 則夫 ,  関口 久由
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-046415
公開番号（公開出願番号）：特開2010-203781
出願日： 2009年02月27日
公開日（公表日）： 2010年09月16日
要約：
【課題】連続して搬送されてくる測定対象物を停止させずに、該測定対象物の内部に局所的な品質異常がある場合においても該品質異常の見逃しを少なくすることができるとともに、信頼性の低下及びコストが増大を抑制することができる品質測定装置を提供する。【解決手段】フレネルレンズ12,12を上下方向に長く搬送方向に短い形状とし、これらを個別の基体11,11内に保持して上下方向に2個設け、基体11,11に個別に接続された、フレネルレンズ12,12により集光された光を伝送する2本の受光側光ファイバケーブル14,15の素線を合わせて1本の分光側光ファイバケーブル16とし、上下2個のフレネルレンズ12,12により集光した光を受光側光ファイバケーブル14,15及び分光側光ファイバケーブル16を通して伝送することにより、単一の分光光度計により分光する。【選択図】図8
請求項（抜粋）：
測定対象物を搬送する搬送部と、該搬送部により搬送されてきた測定対象物に光を照射する投光器、前記測定対象物からの透過光又は反射光を集光する集光レンズ、該集光レンズにより集光された光を分光する分光光度計、並びに、前記分光光度計の検出値を演算処理及び波形分析するとともに、前記測定対象物の品質を評価するための演算式を用いて演算処理する信号処理及び制御装置からなる品質測定部とを備えた、前記測定対象物の内部品質をオンラインで測定して選別するための品質測定装置であって、 前記集光レンズを、上下方向に長く搬送方向に短い形状としてなることを特徴とする品質測定装置。
IPC (3件)：
G01N 21/85 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/35
FI (3件)：
G01N21/85 A ,  G01N21/27 B ,  G01N21/35 Z
Fターム (21件)：
2G051AA05 ,  2G051AB06 ,  2G051BA06 ,  2G051CA03 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  2G051CC09 ,  2G051CC17 ,  2G051DA06 ,  2G059AA05 ,  2G059BB11 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059EE17 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ23 ,  2G059KK04
引用特許：
出願人引用 (12件)
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審査官引用 (9件)
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