特許
J-GLOBAL ID:201003056642196695
質量分析用基板および質量分析方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
柳田 征史
, 佐久間 剛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-247800
公開番号(公開出願番号):特開2010-078482
出願日: 2008年09月26日
公開日(公表日): 2010年04月08日
要約:
【課題】基板の表面に固定した物質をレーザ光照射により該表面から脱離させ、そのイオンを捕捉して質量分析する方法において、従来と比べてより低パワーのレーザ光を使用可能とする。【解決手段】質量分析用基板1として、半透過半反射性を有する第1の反射体10と、透光体20と、反射性を有する第2の反射体30とを順次備えた光共振体を構成するものであり、第1の反射体10の表面1sに試料液中に含まれる複数の被分析物質と表面相互作用を生じる試料分離部を有するものを用い、試料分離部で複数の被分析物質を分離し、被分析物質毎に質量分析を行う。質量分析を行う際には、第1の反射体10の表面1sに接触された試料に対してレーザ光Lを照射することにより、光共振体内に生じる共振によって増強された第1の反射体10の表面1sにおける電場を利用して、試料中に含まれる質量分析の被分析物質Sをイオン化させると共に脱離させる。【選択図】図1A
請求項(抜粋):
表面に固定した物質をレーザ光照射によりイオン化させると共に該表面から脱離させ、イオン化された該物質を捕捉して質量分析する方法に用いられる基板であって、
前記表面側から半透過半反射性を有する第1の反射体と、透光体と、反射性を有する第2の反射体とを順次備え、前記第1の反射体の表面にレーザ光照射を受けて前記透光体内で共振を生じる、前記第1の反射体の表面に試料液中に含まれる複数の被分析物質と表面相互作用を生じる試料分離部を有する光共振体を構成することを特徴とする質量分析用基板。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N27/64 B
, G01N27/62 F
Fターム (13件):
2G041CA01
, 2G041DA03
, 2G041EA01
, 2G041EA03
, 2G041GA05
, 2G041GA06
, 2G041GA11
, 2G041GA14
, 2G041GA16
, 2G041JA07
, 2G041JA08
, 2G041JA16
, 2G041JA20
引用特許:
出願人引用 (3件)
審査官引用 (5件)
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