特許
J-GLOBAL ID：201003058043523036
リッツ線の素線内の電流の流れを点検するための方法およびこの方法を実施するための装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山口 巖
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-512603
公開番号（公開出願番号）：特表2010-532651
出願日： 2008年06月20日
公開日（公表日）： 2010年10月07日
要約：
【課題】 複数の素線(12)から成るリッツ線(4)の欠陥部を高い応答感度で安心確実に検出することを可能とするために、リッツ線(4)に電流(I)が通され、通電するリッツ線(4)のゆえに生じる磁界がセンサ(22)によって検出し評価される。【解決手段】 測定された磁界(B)が振動を有し、振動の長さ(A)がリッツ線(4)の撚りピッチ(L)の倍数であり、特に撚りピッチ(L)に一致するとき、欠陥部が推定される。この方法は特に、接触要素(8)とリッツ線(4)との接触結合(6)の品質を非破壊試験するのにも役立つ。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
リッツ線(4)の素線(12)内の電流の流れを点検するための方法であって、素線が或る撚りピッチ(L)で互いに撚り合わせてあり、リッツ線(4)に電流(I)が通され、通電するリッツ線(4)に基づいて生じる磁界(B)がセンサ(22)によって検出され評価されるものにおいて、測定された磁界(B)が特性振動を有し、振動の長さ(A)が撚りピッチ(L)の倍数であり、特に撚りピッチ(L)に一致するとき、欠陥部(28)が推定されることを特徴とする方法。
IPC (5件)：
H02G 1/00
, G01R 31/02
, H01B 13/00
, H01B 13/02
, G01N 27/72
H02G1/00 F
, G01R31/02
, H01B13/00 C
, H01B13/02 B
, G01N27/72
2G014AA02
, 2G014AB31
, 2G014AB39
, 2G014AC07
, 2G053AA11
, 2G053BA14
, 2G053BC02
, 2G053BC03
, 2G053BC20
, 2G053CA18
, 2G053CB16
, 2G053CB25
, 2G053DA08
, 2G053DB04
, 5G325BA02
, 5G325BD03
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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