特許
J-GLOBAL ID：201003061743865761
差圧式二重イオントラップ質量分析計およびその使用方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
熊倉 禎男
, 弟子丸 健
, 井野 砂里
, 松下 満
, 倉澤 伊知郎
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-541565
公開番号（公開出願番号）：特表2010-514103
出願日： 2007年12月12日
公開日（公表日）： 2010年04月30日
要約：
【課題】質量分析計の分解能を上げること【解決手段】二連イオントラップ質量分析計は、それぞれ比較的高い圧力と低い圧力に維持された、隣接する第1の二次元イオントラップと第2の二次元イオントラップとを含む。高圧が有利な機能(冷却およびフラグメント化)は第1のトラップ内で実行でき、低圧が有利な機能(アイソレート化および分析スキャン)は第2のトラップ内で実行できる。ポンピング制限を行い、2つのトラップの間に差圧を維持できるようにする小さい開口部を有するプレートレンズを通して、第1のトラップと第2のトラップの間でイオンを移動させることができる。この二連イオントラップ質量分析計の差圧環境によって、イオン捕捉およびフラグメント化効率を損なうことなく、高分解能の分析スキャンモードを使用することが可能となる。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
質量スペクトロメータの作動中に第1圧力に維持される内部領域を有し、イオンを受け、閉じ込め、冷却するようになっている第1の二次元四重極イオントラップと、
前記第1のイオントラップに隣接するように位置し、前記質量スペクトロメータの作動中に前記第1圧力よりも実質的に低い第2圧力に維持される内部領域を有する第2の二次元四重極イオントラップとを備え、この第2のイオントラップは、前記第1二次元イオントラップから移動されたイオンを受け、閉じ込め、これらイオンを検出器に質量順に導入し、質量スペクトルを発生させるようになっており、
更に前記第1のイオントラップと前記第2のイオントラップとの間に配置され、両イオントラップの間のイオンの移動を制御する少なくとも1つのイオン光学的要素とを備える、質量スペクトロメータのための二連トラップ質量分析計。
IPC (3件)：
H01J 49/42
, H01J 49/06
, G01N 27/62
H01J49/42
, H01J49/06
, G01N27/62 E
2G041CA01
, 2G041DA02
, 2G041DA04
, 2G041DA05
, 2G041DA09
, 2G041DA13
, 2G041DA18
, 2G041GA03
, 2G041GA05
, 2G041GA06
, 2G041GA08
, 2G041GA09
, 2G041GA10
, 2G041GA29
, 2G041KA01
, 5C038FF07
, 5C038JJ02
, 5C038JJ06
, 5C038JJ11
