特許
J-GLOBAL ID：201003068457854862
粒度分布測定装置および粒度分布測定プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河▲崎▼ 眞樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-271266
公開番号（公開出願番号）：特開2010-101653
出願日： 2008年10月21日
公開日（公表日）： 2010年05月06日
要約：
【課題】回折・散乱光の空間強度分布を粒度分布に変換する粒度分布測定装置において、誤った粒度分布を計測結果としてしまうことをなくす方法の提供。【解決手段】被測定粒子群Pの屈折率として複数の屈折率を設定し、その複数の屈折率に基づく係数行列を算出し、その各係数行列を用いて回折・散乱光の空間強度分布を粒度分布に変換し、その各粒度分布を該当の係数行列を用いて回折・散乱光の空間強度分布に逆変換し、その逆変換結果と実測された回折・散乱光の空間強度分布との一致度を算出し、最も一致どの高い逆変換結果に基づく粒度分布を計測結果とするに当たり、屈折率の範囲を設定する設定手段を設け、粒度分布への変換に供する屈折率を、その設定された屈折率範囲内に限定する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
分散状態の被測定粒子群にレーザ光を照射して得られる回折・散乱光の空間強度分布を測定する測定手段と、その測定された回折・散乱光の空間強度分布の測定結果を、被測定粒子群の屈折率を加味した係数行列を用いて当該被測定粒子群の粒度分布に変換する変換演算手段を備えた粒度分布測定装置において、
上記変換演算手段は、複数の屈折率にそれぞれ対応する複数の係数行列を用いて、上記回折・散乱光の測定結果をそれぞれ粒度分布に変換し、
上記各係数行列を用いて変換された粒度分布を、変換に用いたものと同じ係数行列を用いて回折・散乱光の空間強度分布に逆変換する逆変換演算手段と、その逆変換された各回折・散乱光の空間強度分布と、上記測定手段により測定された回折・散乱光の空間強度分布との一致度を評価関数を用いて算出し、測定された回折・散乱光の空間強度分布に対する一致度の最も高い回折・散乱光の空間強度分布を選択し、その選択された回折・散乱光の空間強度分布に対応する粒度分布を、被測定粒子群の粒度分布の計測結果として確定する評価手段を備えるとともに、
上記変換演算手段による粒度分布の変換に供される複数の係数行列を決定するための屈折率の範囲を設定する設定手段を備えていることを特徴とする粒度分布測定装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01N15/02 C
, G01N15/02 Z
出願人引用 (3件)
審査官引用 (7件)
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