特許
J-GLOBAL ID：201003090069394740
二次電池の劣化診断方法、及び二次電池の劣化診断装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人暁合同特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-123366
公開番号（公開出願番号）：特開2010-272365
出願日： 2009年05月21日
公開日（公表日）： 2010年12月02日
要約：
【課題】一回の充放電で電池の容量劣化を診断することを目的とする。【解決手段】二次電池の劣化診断方法であって、診断対象の二次電池を充電させながら、その時の端子間電圧(V)と充電電流(I)とを継続的に計測して、端子間電圧(V)に対する充電電気量(Q)の変化量(ΔQ/ΔV)と端子間電圧(V)の相関を示す第一変化量特性、又は充電電気量(Q)に対する端子間電圧(V)の変化量(ΔV/ΔQ)と端子間電圧(V)の相関を示す第二変化量特性を算出し、前記変化量(ΔQ/ΔV)が極大となる時又は前記変化量(ΔV/ΔQ)が極小となる時の端子間電圧(V)と、診断対象と同種の定格容量二次電池について予め算出した前記変化量(ΔQ/ΔV)が極大となる時、又は前記変化量(ΔV/ΔQ)が極小となる時の基準端子間電圧(V)に基づいて電池の劣化を診断する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
二次電池の劣化診断方法であって、診断対象の二次電池を充電させながら、その時の端子間電圧(V)と充電電流(I)とを継続的に計測して、
端子間電圧(V)に対する充電電気量(Q)の変化量(ΔQ/ΔV)と端子間電圧(V)の相関を示す第一変化量特性、又は充電電気量(Q)に対する端子間電圧(V)の変化量(ΔV/ΔQ)と端子間電圧(V)の相関を示す第二変化量特性を算出し、
前記変化量(ΔQ/ΔV)が極大となる時又は前記変化量(ΔV/ΔQ)が極小となる時の端子間電圧(V)と、
診断対象と同種の定格容量二次電池について予め算出した前記変化量(ΔQ/ΔV)が極大となる時、又は前記変化量(ΔV/ΔQ)が極小となる時の基準端子間電圧(V)に基づいて電池の劣化を診断する二次電池の劣化診断方法。
IPC (4件)：
H01M 10/48
, G01R 31/36
, H01M 4/525
, H01M 4/36
H01M10/48 P
, G01R31/36 A
, H01M4/52 102
, H01M4/36 E
2G016CA03
, 2G016CA07
, 2G016CB01
, 2G016CB05
, 2G016CB06
, 5H030AA01
, 5H030AA10
, 5H030AS20
, 5H030FF22
, 5H030FF42
, 5H030FF43
, 5H030FF44
, 5H050AA02
, 5H050BA17
, 5H050CA08
, 5H050CA09
, 5H050CA29
, 5H050HA16
