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J-GLOBAL ID：201102213107930543   整理番号：11A0996249

中性子及び電子線照射後セラミックス試料の熱拡散率と陽電子寿命の相関

著者 (5件)： 秋吉優史 (京大) ,  土田秀次 (京大) ,  義家敏正 (京大 原子炉実験所) ,  XU Qiu (京大 原子炉実験所) ,  佐藤紘一 (京大 原子炉実験所)
資料名： KURRI-KR (CD) (CD-ROM)  (KURRI-KR (CD) (CD-ROM))
号： 31  ページ： ROMBUNNO.8  発行年： 2010年 
JST資料番号： L5681A  ISSN： 1349-7960  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *中性子照射 ,  *電子照射 ,  *セラミック ,  温度伝導率 ,  寿命 ,  相関 ,  散乱 ,  *陽電子寿命 ,  フォノン散乱
準シソーラス用語： 電子線照射 ,  *熱拡散率

分類 (1件)： その他の物質の放射線による構造と物性の変化  (BK16124V)

タイトルに関連する用語 (7件)： 中性子 ,  電子線照射 ,  セラミックス ,  試料 ,  熱拡散率 ,  陽電子寿命 ,  相関