特許
J-GLOBAL ID：201103000206744573

三次元計測装置

発明者：
間宮 高弘

間宮 高弘 について

, 
二村 伊久雄

二村 伊久雄 について


出願人/特許権者：
シーケーディ株式会社

シーケーディ株式会社 について


代理人 (1件)： 川口 光男
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-234718
公開番号（公開出願番号）：特開2002-048523
特許番号：特許第3723057号
出願日： 2000年08月02日
公開日（公表日）： 2002年02月15日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 少なくとも計測対象物に対し、縞状の光強度分布を有するとともに、互いに異なる波長成分を有し、互いに相対位相関係の異なる少なくとも2つの光成分パターンを同時に照射可能な照射手段と、 前記光成分パターンの照射された計測対象物からの反射光を各光成分毎に分離して撮像可能な撮像手段と、 前記異なる相対位相関係下において前記撮像手段にて撮像された少なくとも2通りの画像データ、及び、計測対象物の色合い等による反射率の影響を補正するための別途の補正用データに基づき、位相シフト法により少なくとも前記計測対象物の所定の高さを演算する演算手段とを備え、 前記補正用データは、白色全照射された計測対象物からの反射光を撮像した画像データであることを特徴とする三次元計測装置。
IPC (2件)：
G01B 11/24 ,  G01B 11/02
FI (2件)：
G01B 11/24 K ,  G01B 11/02 H
引用特許：
審査官引用 (7件)
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