特許
J-GLOBAL ID:201103001751037783
質量分析計
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
高田 幸彦
, 竹ノ内 勝
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-260841
公開番号(公開出願番号):特開2001-084954
特許番号:特許第3650551号
出願日: 1999年09月14日
公開日(公表日): 2001年03月30日
請求項(抜粋):
【請求項1】 試料に関するイオンを生成するイオン源と、該イオン源で生成されたイオンの質量を分析するイオントラップ型質量分析器と、および該イオントラップ型質量分析器により質量分離されたイオンを検出する検出器を備えた質量分析計において、 前記イオントラップ型質量分析器から出射されたイオンが前記検出器に到達する前に前記イオントラップ型質量分析器のイオン閉じ込め期間と分析期間に応じてイオン方向を偏向し、イオン閉じ込め期間ではイオンが検出器に到達するのを妨げ、分析期間ではイオンが検出器に導かれるようにイオン偏向器を設けたことを特徴とする質量分析計。
IPC (3件):
H01J 49/42
, G01N 27/62
, H01J 49/06
FI (3件):
H01J 49/42
, G01N 27/62 E
, H01J 49/06
引用特許:
審査官引用 (7件)
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イオン蓄積型質量分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-002385
出願人:株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
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プラズマ質量分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-241903
出願人:株式会社日立製作所
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イオン検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-073578
出願人:株式会社島津製作所
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