半導体集積回路装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：佐野静夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-014491
公開番号（公開出願番号）：特開2000-214224
特許番号：特許第3597403号
出願日： 1999年01月22日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
請求項（抜粋）：

【請求項1】周波数fの高速のクロックと該クロックに同期したnビット単位のデータ信号を処理する半導体集積回路装置において、前記クロックを1/Nに分周する分周器と、引き続くN個の前記nビット単位のデータ信号を同時に出力することによりN×nビット単位のデータ信号に変換するデータ変換手段と、1/Nに分周されたクロックを使用して、前記N×nビット単位のデータ信号を処理する主回路と、f/Nの周波数のクロックで動作する汎用のロジックテスタからテスト用のデータ信号を前記主回路に直接入力するテスト用データ信号入力端子と、前記ロジックテスタからf/Nの周波数のクロックを前記主回路に直接入力するためのテスト用クロック入力端子と、を有することを特徴とする半導体集積回路装置。

IPC (3件)：

G01R 31/28 , H01L 21/822 , H01L 27/04

FI (2件)：

G01R 31/28 V , H01L 27/04 T

引用特許：

出願人引用 (10件)

LSIテスト回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-078058 出願人：沖電気工業株式会社
特開平2-292855
特開平4-087362

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