特許
J-GLOBAL ID：201103039557011193

テストモードセットアップ回路

発明者：
ドン・ギュン・キム

ドン・ギュン・キム について


出願人/特許権者：
株式会社ハイニックスセミコンダクター

株式会社ハイニックスセミコンダクター について


代理人 (1件)： 山川 政樹
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-056976
公開番号（公開出願番号）：特開平11-312398
特許番号：特許第3642971号
出願日： 1999年03月04日
公開日（公表日）： 1999年11月09日
請求項（抜粋）：
【請求項1】外部信号のCLK、RASB、CASB、CSB、WEB、指定アドレス信号を入力信号として予備セットアップ信号を出力する命令語デコーダと、命令語デコーダからの予備セットアップ信号を入力するとともに複数のビットからなる付加アドレスとを入力し、入力された付加アドレスを予備セットアップ信号でシフトさせて出力するシフトレジスタと、シフトレジスタからの出力によって演算し、シフトレジスタの出力が所定の組み合わせであるときにテストレジスタセットアップ信号を出力するロジック部と、テストレジスタセットアップ信号を格納するテストレジスタと、テストレジスタの格納信号に応じてテストモード信号を出力するテストデコーダとを備えることを特徴とするテストモードセットアップ回路。
IPC (4件)：
G11C 29/00 ,  G01R 31/28 ,  G11C 11/401 ,  G11C 11/407
FI (4件)：
G11C 29/00 671 T ,  G01R 31/28 B ,  G11C 11/34 362 S ,  G11C 11/34 371 A
引用特許：
出願人引用 (5件)
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