特許
J-GLOBAL ID：201103046497150136

試料長期保存装置

発明者：
飯塚 大介

飯塚 大介 について

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藤井 和博

藤井 和博 について

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齊藤 尚武

齊藤 尚武 について

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大和田 哲男

大和田 哲男 について


出願人/特許権者：
株式会社アビー

株式会社アビー について


代理人 (1件)： 一色国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-259313
公開番号（公開出願番号）：特開2011-103775
出願日： 2009年11月12日
公開日（公表日）： 2011年06月02日
要約：
【課題】生体細胞や組織等の対象試料に対応して氷晶発生前の過冷却温度帯を精度良く設定できて、長期保存可能な試料長期保存装置を提供する。【解決手段】対象試料4を過冷却温度帯まで冷却可能な冷却装置8と、対象試料を収納する冷却室1と、温度測定装置12,15と、冷却室に磁界を付与する磁場発生装置9,10,11と、過冷却温度に設定する温度制御装置15,16とを備え、付与する磁場は静磁場、変動磁場でX,Y,Z方向とし、その強度は0.05mT〜1T、周波数は0.1Hz〜300KHzで、独立に任意可変し得、磁場の重畳により回転磁場も付与し得る。冷却室と冷凍装置間には熱絶縁空間とこれに充填する伝熱流体の供給装置を持ち、この冷却温度により過冷却の解除操作も可能にした。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
食品や生体材料組織等の試料を長期間にわたって保存する試料長期保存装置であって、 該保存対象試料を収納する冷却室と、 該冷却室を保存対象試料の過冷却温度帯まで冷却可能な冷却装置と、 該冷却室を加熱する加熱装置と 該冷却室の温度を測定する温度測定装置と、 該冷却室に磁界を付与する磁場発生装置と、 該温度測定装置で検出した温度値に基づいて該冷却装置と該加熱装置との作動を制御することで、該冷却室の温度を設定された任意値に調節する温度制御装置と、 を備えたことを特徴とする試料長期保存装置。
IPC (1件)：
C12M 1/00
FI (1件)：
C12M1/00 A
Fターム (4件)：
4B029AA12 ,  4B029BB11 ,  4B029DD04 ,  4B029DD06
引用特許：
審査官引用 (11件)
  • 冷蔵庫
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-148181   出願人：日立アプライアンス株式会社
  • 冷蔵庫
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-096811   出願人：日立アプライアンス株式会社
  • 超氷温庫
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-305123   出願人：株式会社ニノミヤテクノコーポレーション, 株式会社氷温研究所
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