特許
J-GLOBAL ID:201103049172959949

基板の超音波洗浄条件決定方法及びこれを用いた基板洗浄装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 杉谷 勉 ,  戸高 弘幸
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-224677
公開番号(公開出願番号):特開2011-077135
出願日: 2009年09月29日
公開日(公表日): 2011年04月14日
要約:
【課題】超音波洗浄時における基板のパターンへのダメージを抑制することができる。【解決手段】(1/2)fの出力が、処理液を脱気水としたときの出力値以下になる最適洗浄条件を決定した上で、制御部57が最適洗浄条件となるように各部を操作して、製品の基板Wに対する洗浄処理を行わせる。したがって、(1/2)fのサブハーモニクスによる悪影響を抑制することができ、超音波洗浄時における基板Wのパターンへのダメージを抑制できる。【選択図】図5
請求項(抜粋):
ガスを溶存させた処理液に基板を浸漬させ、超音波振動付与手段により処理液に周波数fの超音波振動を付与して基板を洗浄する基板の超音波洗浄条件決定方法において、 処理液中に生じる(1/2)fのサブハーモニクスの出力を、処理液を脱気水としたときの出力値以下にすることを特徴とする基板の超音波洗浄条件決定方法。
IPC (3件):
H01L 21/304 ,  G02F 1/13 ,  G02F 1/133
FI (4件):
H01L21/304 648G ,  H01L21/304 642E ,  G02F1/13 101 ,  G02F1/1333 500
Fターム (28件):
2H088FA21 ,  2H088FA30 ,  2H088HA01 ,  2H090JB02 ,  2H090JC19 ,  5F157AC01 ,  5F157BB02 ,  5F157BB74 ,  5F157BB79 ,  5F157BC03 ,  5F157BC12 ,  5F157BC13 ,  5F157BC54 ,  5F157BD26 ,  5F157BD54 ,  5F157BE12 ,  5F157BF22 ,  5F157BF23 ,  5F157CD15 ,  5F157CE37 ,  5F157CE38 ,  5F157CE83 ,  5F157CE89 ,  5F157CF42 ,  5F157CF44 ,  5F157CF60 ,  5F157DA21 ,  5F157DB47
引用特許:
審査官引用 (8件)
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