特許
J-GLOBAL ID:201103052956184235

光サンプリング波形測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外5名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-074684
公開番号(公開出願番号):特開2002-277329
特許番号:特許第3517220号
出願日: 2001年03月15日
公開日(公表日): 2002年09月25日
請求項(抜粋):
【請求項1】 入力された単一の偏波面を有する被測定光(a)よりパルス幅の狭い単一の偏波面を有するサンプリング光(b)を発生するサンプリング光源(4)と、このサンプリング光源から出射されたサンプリング光及び前記被測定光を同一光軸上に偏波面が互いに直交するように合波する合波器(3)と、この合波器で合波されたサンプリング光及び被測定光が入射され、このサンプリング光及び被測定光に対する第2種位相整合が可能な、前記サンプリング光及び被測定光の和周波光(c)を出射する非線形光学結晶(10)と、この非線形光学結晶から出力された和周波光を電気信号(d)に変換する受光器(7)と、この受光器から出力された電気信号を処理して前記被測定光の光パルス波形(e)を表示する信号処理部(8)とを備えた光サンプリング波形測定装置において、前記非線形光学結晶は、有機非線形光学結晶の2-アダマンチルアミノ-5-ニトロピリジン(AANP)であり、前記非線形光学結晶の位相整合方向(15)に垂直な面内に有る結晶の基準軸と直角に前記被測定光の偏波方向を設定し、かつ前記基準軸と平行に前記サンプリング光の偏波方向を設定したことを特徴とする光サンプリング波形測定装置。
IPC (3件):
G01J 11/00 ,  G02F 1/37 ,  H04B 10/00
FI (3件):
G01J 11/00 ,  G02F 1/37 ,  H04B 9/00 Z
引用特許:
出願人引用 (7件)
全件表示
審査官引用 (3件)

前のページに戻る