特許
J-GLOBAL ID:201103061246977510
不揮発性半導体記憶装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件):
鈴江 武彦
, 村松 貞男
, 坪井 淳
, 橋本 良郎
, 河野 哲
, 中村 誠
, 河井 将次
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-212964
公開番号(公開出願番号):特開2000-049312
特許番号:特許第3660503号
出願日: 1998年07月28日
公開日(公表日): 2000年02月18日
請求項(抜粋):
【請求項1】 複数の不揮発性半導体メモリセルと、これら複数のメモリセルに接続された複数のローカルワード線と、前記複数のメモリセルに接続された複数のローカルビット線と、前記複数のメモリセルに接続されたソース線とからなるメモリセルアレイブロックと、 前記ローカルワード線を選択する第1のローデコーダと、 前記ローカルビット線を選択する第1のカラムゲートと を有する複数のメモリコア部が行及び列に配置され、 グローバルワード線により前記各行に配置された複数の前記第1のローデコーダに接続される複数の第2のローデコーダと、 グローバルビット線により前記各列に配置された複数の前記第1のカラムゲートに接続される複数の第2のカラムゲートと、 前記複数の第2のカラムゲートに接続され、書き込みデータを前記第2のカラムデコーダに供給する書き込み回路と、 前記複数の第2のカラムゲートに接続され、前記第1、第2のカラムゲートを介して前記メモリセルから読み出されたデータを検出するセンスアンプと を具備することを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。
IPC (6件):
H01L 21/8247
, G11C 16/06
, H01L 27/10
, H01L 27/115
, H01L 29/788
, H01L 29/792
FI (4件):
H01L 27/10 434
, H01L 27/10 481
, G11C 17/00 633 A
, H01L 29/78 371
引用特許:
審査官引用 (5件)
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-273682
出願人:日本電気株式会社
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半導体集積回路装置、不揮発性半導体記憶装置及びそれらの製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-082721
出願人:三菱電機株式会社
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-244904
出願人:富士通株式会社
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不揮発性半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-116482
出願人:三菱電機株式会社, 株式会社日立製作所, 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリング株式会社
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不揮発性半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-116480
出願人:三菱電機株式会社, 株式会社日立製作所, 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリング株式会社
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