特許
J-GLOBAL ID:201103069926044900

発光反応測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 長谷川 芳樹 ,  塩田 辰也 ,  寺崎 史朗
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-114239
公開番号(公開出願番号):特開2002-310915
特許番号:特許第4611562号
出願日: 2001年04月12日
公開日(公表日): 2002年10月23日
請求項(抜粋):
【請求項1】試料ガスと酸化性ガスとを反応室内で反応させ、当該反応時の化学発光による光の強度を光検出器で検出する発光反応測定装置において、 前記反応室はその内表面が光反射性とされるとともに、当該反応室での前記化学発光による光を当該反応室外に設置される前記光検出器に向けて出射させる光透過窓を備え、 前記光検出器は、前記出射された化学発光による光をその周面から入射する筒状の容器と、当該容器内に入射された前記化学発光による光を光電変換して光電子を発生させる反射型の光電面と、電子の入射に伴い二次電子を放出する二次電子放出面を一方の面に有し前記光電子を順次増倍させて出力する複数のダイノードと、を備えるサイドオン型の光電子増倍管であり、 前記ダイノードの少なくとも一部は、前記周面から入射される前記化学発光による光を他方の面で受けて前記反応室の光透過窓へ反射させる、 ことを特徴とする発光反応測定装置。
IPC (2件):
G01N 21/76 ( 200 6.01) ,  G01N 31/00 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01N 21/76 ,  G01N 31/00 H
引用特許:
出願人引用 (8件)
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