特許
J-GLOBAL ID：201103071257359342

干渉計、復調器及び光通信モジュール

発明者：
三上 秀治

三上 秀治 について


出願人/特許権者：
日本オプネクスト株式会社

日本オプネクスト株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人はるか国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-154543
公開番号（公開出願番号）：特開2011-013246
出願日： 2009年06月30日
公開日（公表日）： 2011年01月20日
要約：
【課題】 差動位相偏移変調信号の復調器を作製するにあたり、PDFSの低減が課題となる。従来の解決方法では組立調整が複雑化する、あるいは個体間の特性のばらつきが大きくなる。【解決手段】 復調器内部の遅延干渉計において、干渉させる2つの分岐光303,304の偏光状態を、ハーフビームスプリッタ302で、p偏光とs偏光が逆転するようにし、分岐に用いたハーフビームスプリッタ302で再び合波して干渉光309,310を生成する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
被測定光を第一の分岐光と第二の分岐光とに分岐する光分割手段と、 前記第一の分岐光のp偏光成分とs偏光成分を逆転させる第一の偏光回転手段と、 前記第一の分岐光を再び前記光分割手段に導く第一の反射手段と、 前記第二の分岐光のp偏光成分とs偏光成分を逆転させる第二の偏光回転手段と、 前記第二の分岐光を再び前記光分割手段に導く第二の反射手段とを有し、 前記第一の反射手段によって反射された前記第1の分岐光と、前記第二の反射手段によって反射された前記第二の分岐光とを合波し、第一の干渉光と第二の干渉光を生成することを特徴とする干渉計。
IPC (8件)：
G02F 2/00 ,  H04B 10/04 ,  H04B 10/06 ,  H04B 10/142 ,  H04B 10/152 ,  H04B 10/02 ,  H04B 10/28 ,  G02B 5/30
FI (4件)：
G02F2/00 ,  H04B9/00 L ,  H04B9/00 W ,  G02B5/30
Fターム (17件)：
2H149AA24 ,  2H149AB01 ,  2H149AB23 ,  2H149BA04 ,  2H149DA04 ,  2H149DA12 ,  2K002AA02 ,  2K002AB18 ,  2K002EA30 ,  5K102AA15 ,  5K102AA67 ,  5K102AH27 ,  5K102PH25 ,  5K102PH37 ,  5K102PH49 ,  5K102PH50 ,  5K102RB02
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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