特許
J-GLOBAL ID：201103087394641660
光干渉断層像観測装置
発明者：
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
清水 守
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-040883
公開番号（公開出願番号）：特開2001-228080
特許番号：特許第3553451号
出願日： 2000年02月18日
公開日（公表日）： 2001年08月24日
請求項（抜粋）：
【請求項1】回転体の円周部に一つの頂角を90度にしたリトロリフレクタープリズムを、前記リトロリフレクタープリズムの頂角の対角面を円周の接線におよそ直交するように設け、前記対角面に光束を入射させる時、該入射方向と平行に前記光束を反射する該プリズムの特性を利用し、前記回転体の回転とともに反射点を一定方向に走査することができ、光の進行方向に回転する場合は遅延反射する光束を、回転が反対の場合は漸進反射する光束を回転に応じて周期的に発生する回転プリズム装置を具備するとともに、低コヒーレンス光源よりの光束を2分割する手段と、一方の光束を参照光として、前記反射点の回転走査により遅延または漸進しドップラーシフト周波数となる反射光束を得るとともに、他方の光束を屈折率分布が多層構造を成す被測定物体に収束し、前記多層構造体深部の散乱ポテンシャルよりの物体反射光を捕捉する対物レンズを具備し、前記参照光と前記物体反射光とが前記2分割時点より等光学光路長にて合波干渉した場合のみ最大の干渉信号を得ることを特徴とした前記低コヒーレンス性に基づく前記シフト周波数のビート信号を得る所のヘテロダイン検波する光検出器を具備し、前記遅延または漸進する反射光束の走査反射点を座標として算出する手段と、前記ビート信号よりの該被測定物体の深部散乱ポテンシャルに基づく反射振幅と前記座標を画素情報として反射断層像分布を計測・表示できる信号制御処理システムと電子計算機およびディスプレイを具備したことを特徴とする光干渉断層像観測装置。
IPC (3件)：
G01N 21/17
, G01B 11/24
, G01N 21/45
G01N 21/17 620
, G01N 21/45 A
, G01B 11/24 B
