特許
J-GLOBAL ID:201103095435003286

X線検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小野 由己男 (外2名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-335214
公開番号(公開出願番号):特開2002-098653
特許番号:特許第3494977号
出願日: 2000年09月26日
公開日(公表日): 2002年04月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】連続搬送される物品の状態をX線を用いて検査を行うX線検査装置であって、前記X線で物品の状態を検出するX線検出手段と、前記X線検出手段による検出レベルに基づき物品の状態を判断する判断手段と、前記判断手段による判断結果を出力する出力手段と、前記判断手段の判断基準となるしきい値を物品毎に記憶した記憶部と、前記検出レベルに基づく値を、その値に対応する面積で表示するとともに、前記しきい値を、位置を固定して表示する、表示部と、前記しきい値及び前記検出レベルに基づく値を前記表示部に表示させる表示制御手段と、前記しきい値を変更する変更手段と、を備えたX線検査装置。
IPC (1件):
G01N 23/04
FI (1件):
G01N 23/04
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (8件)
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