特許
J-GLOBAL ID：201203015830316203

X線装置およびX線測定方法

発明者：
向出 大平

向出 大平 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (1件)： 長尾 達也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-177062
公開番号（公開出願番号）：特開2012-037352
出願日： 2010年08月06日
公開日（公表日）： 2012年02月23日
要約：
【課題】X線の被検知物による吸収情報と位相情報とを、分離して独立した情報として取得するX線装置を提供する。【解決手段】X線装置であって、X線発生手段から発生したX線を空間的に分割する分割素子と、分割素子により分割され、被検知物を透過したX線の位相変化によるX線の位置変化量を、X線または光の強度変化量に換えて、X線または光の強度を検出する検出手段と、検出手段から得られたX線または光の強度から被検知物の吸収情報であるX線透過率像と、位相情報であるX線微分位相像またはX線位相シフト像を演算する演算手段と、を有し、分割素子は、X線を分割することにより検出手段において2以上の幅を有するX線を照射する構成を備え、演算手段は、検出手段におけるX線の位置変化量とX線または光の強度変化量との相関関係が2以上の幅を有するX線間で異なることに基づいて演算する構成を備えている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
X線の被検知物による吸収情報と位相情報を取得するX線装置であって、 X線発生手段から発生したX線を空間的に分割する分割素子と、 前記分割素子により分割され、前記被検知物を透過したX線の位相変化によるX線の位置変化量を、X線の強度変化量に換えて、X線の強度を検出する検出手段と、 前記検出手段から得られたX線の強度から前記被検知物の前記吸収情報であるX線透過率像と、前記位相情報であるX線微分位相像またはX線位相シフト像を演算する演算手段と、を有し、 前記分割素子は、前記X線を分割することにより前記検出手段において2以上の幅を有するX線を照射する構成を備えると共に、 前記演算手段は、前記検出手段におけるX線の位置変化量とX線の強度変化量との相関関係が前記2以上の幅を有するX線間で異なることに基づいて演算する構成を備えていることを特徴とするX線装置。
IPC (4件)：
G01N 23/04 ,  A61B 6/00 ,  G01N 23/207 ,  G21K 1/06
FI (6件)：
G01N23/04 ,  A61B6/00 330Z ,  A61B6/00 300J ,  A61B6/00 300Q ,  G01N23/207 ,  G21K1/06 S
Fターム (32件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001DA09 ,  2G001EA02 ,  2G001EA06 ,  2G001EA07 ,  2G001FA08 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA04 ,  2G001JA05 ,  2G001KA01 ,  2G001SA01 ,  2G001SA11 ,  4C093AA07 ,  4C093CA04 ,  4C093EA11 ,  4C093EA12 ,  4C093EB12 ,  4C093EB17 ,  4C093EB22 ,  4C093EB24 ,  4C093FD08 ,  4C093FD11
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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