特許
J-GLOBAL ID：201203022708168291
非破壊検査方法及び非破壊検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人サンクレスト国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-236362
公開番号（公開出願番号）：特開2012-088226
出願日： 2010年10月21日
公開日（公表日）： 2012年05月10日
要約：
【課題】位相差分布を用いた場合において、内部欠陥のある部位と健全部との境界を正確に捉えることができる非破壊検査方法又は装置を提供する。【解決手段】検査対象物を励起してロックイン処理を行うサーモグラフィによる非破壊検査方法及び装置であって、まず、ロックイン処理を用いて位相差分布を求め、次に、位置に対応した位相の変化を1次近似した勾配が正の最大値及び負の最大値となる位置をそれぞれ求める。そして、当該位置を、内部欠陥のある部位と健全部との境界と判定する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
検査対象物を励起してロックイン処理を行うサーモグラフィによる非破壊検査方法であって、
前記ロックイン処理を用いて位相差分布を求め、
位置に対応した位相の変化を1次近似した勾配が正の最大値及び負の最大値となる位置をそれぞれ求めて、当該位置を、内部欠陥のある部位と健全部との境界と判定する
ことを特徴とする非破壊検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (11件)：
2G040AA05
, 2G040CA02
, 2G040DA06
, 2G040DA12
, 2G040EA06
, 2G040HA11
, 2G066AC20
, 2G066BC09
, 2G066CA02
, 2G066CA04
, 2G066CA20
