特許
J-GLOBAL ID：201203041867269621

高分子材料の微細構造の観察方法

発明者：
古橋 幸子

古橋 幸子 について

, 
龍岡 照久

龍岡 照久 について

, 
目春 智隆

目春 智隆 について


出願人/特許権者：
東京電力株式会社

東京電力株式会社 について


代理人 (2件)： 志賀 正武 ,  渡邊 隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-067882
公開番号（公開出願番号）：特開2012-202834
出願日： 2011年03月25日
公開日（公表日）： 2012年10月22日
要約：
【課題】走査型電子顕微鏡により高分子材料の相分離構造、ラメラ構造および結晶の配向状態を解析することが可能な高分子材料の微細構造の観察方法を提供する。【解決手段】本発明の高分子材料の微細構造の観察方法は、高分子材料を所定の大きさに成形して、観察用の試料とする工程Aと、前記試料を液状の透明樹脂で包埋する工程Bと、前記透明樹脂が硬化した後、クロスセクションポリッシャーにより、前記透明樹脂および前記試料を研磨し、前記試料の観察面の面出しを行う工程Cと、前記面出しされた観察面に、導電膜を形成する工程Dと、前記導電膜が形成された観察面を、走査型電子顕微鏡により観察する工程Eと、を備えたことを特徴とする。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
高分子材料を所定の大きさに成形し、当該高分子材料を観察用の試料とする工程Aと、 前記試料を透明樹脂で包埋する工程Bと、 クロスセクションポリッシャーにより、前記透明樹脂および前記試料を研磨し、前記試料の観察面の面出しを行う工程Cと、 前記面出しされた観察面に、導電膜を形成する工程Dと、 前記導電膜が形成された観察面を、走査型電子顕微鏡により観察する工程Eと、を備えたことを特徴とする高分子材料の微細構造の観察方法。
IPC (4件)：
G01N 1/32 ,  G01N 1/28 ,  G01N 1/36 ,  G01N 23/225
FI (5件)：
G01N1/32 A ,  G01N1/28 G ,  G01N1/28 R ,  G01N1/28 N ,  G01N23/225
Fターム (18件)：
2G001AA03 ,  2G001BA07 ,  2G001BA14 ,  2G001CA03 ,  2G001GA06 ,  2G001HA13 ,  2G001KA08 ,  2G001LA05 ,  2G001RA01 ,  2G001RA08 ,  2G052AB14 ,  2G052AD12 ,  2G052AD32 ,  2G052AD52 ,  2G052EC02 ,  2G052EC16 ,  2G052FA01 ,  2G052GA35
引用特許：
審査官引用 (7件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM