特許
J-GLOBAL ID:201203086945156050

発光半導体装置、実装基板及びそれらの製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 小島 隆司 ,  重松 沙織 ,  小林 克成 ,  石川 武史
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-155362
公開番号(公開出願番号):特開2012-019062
出願日: 2010年07月08日
公開日(公表日): 2012年01月26日
要約:
【解決手段】発光半導体素子用リフレクターに収容された発光半導体素子の電極がリードの電極にフリップチップ方式で接続され、素子とリードフレームとの間隙部がアンダーフィル材で充填硬化されていると共に、上記発光半導体素子及びリフレクターの表面を覆って0.05〜10μm厚さの酸化ケイ素硬化被膜が形成されてなることを特徴とする発光半導体装置。【効果】本発明によれば、ガス透過性を大幅に改善することでリフレクターの反射率低下を防止し、腐食性ガスの侵入による腐食を防止することができ、これにより長期の信頼性を確保した発光半導体装置を提供することができる。【選択図】なし
請求項(抜粋):
発光半導体素子用リフレクターに収容された発光半導体素子の電極がリードの電極にフリップチップ方式で接続され、素子とリードフレームとの間隙部がアンダーフィル材で充填硬化されていると共に、上記発光半導体素子及びリフレクターの表面を覆って0.05〜10μm厚さの酸化ケイ素硬化被膜が形成されてなることを特徴とする発光半導体装置。
IPC (4件):
H01L 33/56 ,  H01L 23/28 ,  H01L 21/56 ,  H01L 23/48
FI (4件):
H01L33/00 424 ,  H01L23/28 D ,  H01L21/56 J ,  H01L23/48 Y
Fターム (20件):
4M109AA01 ,  4M109BA01 ,  4M109CA04 ,  4M109CA10 ,  4M109EA06 ,  4M109EA10 ,  4M109EB12 ,  4M109EC11 ,  4M109FA05 ,  4M109GA01 ,  5F041AA44 ,  5F041DA07 ,  5F041DA09 ,  5F041DA17 ,  5F041DA45 ,  5F041DC26 ,  5F041DC76 ,  5F061AA01 ,  5F061CA04 ,  5F061FA01
引用特許:
審査官引用 (7件)
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