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J-GLOBAL ID：201302216319273082   整理番号：13A0782798

非加工接触型ICカードのレーザー照射によるフォールト攻撃

Laser Fault Injection Attack on Non-Decapped Contact Smart Card

著者 (8件)： 大野仁 (横浜国大 大学院環境情報研究院/学府) ,  土屋遊 (横浜国大 大学院環境情報研究院/学府) ,  遠山毅 (横浜国大 大学院環境情報研究院/学府) ,  岸川剛 (横浜国大 大学院環境情報研究院/学府) ,  齋藤翔平 (横浜国大 大学院環境情報研究院/学府) ,  佐々木明彦 (森田テック) ,  佐藤証 (東大 大規模集積システム設計教育研究セ) ,  松本勉 (横浜国大 大学院環境情報研究院/学府)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 112  号： 460(IT2012 62-111)  ページ： 195-202  発行年： 2013年02月28日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 暗号モジュールの暗号化処理中に故意に誤動作を誘発させることにより,その内部に格納されている秘密鍵を導出するフォールト攻撃に対する安全性評価が重要視されている。誤動作を誘発する方法には,クロックグリッチや電源グリッチ,電磁波照射,レーザー照射などが挙げられる。特にレーザー照射によるフォールト攻撃は,照射する位置やタイミングが正確に制御でき,誤動作の再現性が高いという特徴を有し,ICカードの安全性評価を中心に様々な研究が行われている。レーザー光はICチップの表面あるいは裏面に直接照射する必要があることから,ICのパッケージを開封する必要があり,我々が調査した限りではモジュールを加工せずに攻撃に成功した報告はない。それに対して我々は,AES-128をソフトウェア実装した接触型ICカードを用いて加工を一切行うことなく,電極(カードR/Wへのコンタクト端子)の隙間へのレーザーを照射によりフォールト攻撃に成功した。本稿ではその詳細について報告する。(著者抄録)

シソーラス用語： レーザ照射 ,  モジュール ,  暗号 ,  データ保護 ,  *安全性 ,  性能評価 ,  クロック ,  グリッチ ,  電磁波照射 ,  *ICカード ,  測時機
準シソーラス用語： 暗号モジュール ,  *暗号攻撃 ,  非接触ICカード

分類 (2件)： 符号理論  (ND02030R) ,  入出力インタフェイス  (JC04040J)

タイトルに関連する用語 (3件)： ICカード ,  レーザー照射 ,  攻撃