特許
J-GLOBAL ID:201303058725140947

光ファイバひずみ検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 山口 朔生 ,  河西 祐一 ,  横山 正治
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-058546
公開番号(公開出願番号):特開2002-257520
特許番号:特許第4786808号
出願日: 2001年03月02日
公開日(公表日): 2002年09月11日
請求項(抜粋):
【請求項1】ひずみを検出する光ファイバひずみ検出装置において、 光ファイバを保持するセンサ部と、 センサ部内において、保持された光ファイバに形成され、ほぼ同一の温度領域に配置された第1FBG部と第2FBG部と、 光ファイバに広帯域の光を送出し、反射光を受信する測定装置とを備え、 センサ部にひずみが作用すると、第1FBG部と第2FBG部に差動的に張力が作用し、第1FBG部と第2FBG部から反射してくる反射光の波長が変化することを特徴とする、 光ファイバひずみ検出装置。
IPC (1件):
G01B 11/16 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01B 11/16 Z
引用特許:
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (9件)
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