特許
J-GLOBAL ID:201303086748080651
ウェルプレート
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
村山 靖彦
, 志賀 正武
, 渡邊 隆
, 実広 信哉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-117600
公開番号(公開出願番号):特開2013-224946
出願日: 2013年06月04日
公開日(公表日): 2013年10月31日
要約:
【課題】X線蛍光分光分析による測定用の試料を調製する装置を提供する。【解決手段】装置2が、一つ以上のスルーホール8を有するプレート4を含み、プレート4の一側面上で膜がホール8を覆う位置での一つの寸法にて、ホール8が500マイクロメートル未満の直径を有する。膜6が、X線に対し半透明である。他の実施形態において、プレート4に対し防水密封を形成する取外し可能なカバーによって、ホール8がプレートの一側面上で覆われる。カバーが、Os、Y、In、P、Zr、Pt、Au、Nb、Hg、Ta、Mo、S、Pb、Bi、Tc、Ru、Cl、Rh、Pd、Ar、Ag、及びThの元素を実質的に含まない。また、約2マイクロリットルから約2ミリリットルの間の体積及び約10マイクロモル未満の溶液を提供する段階を含む。溶液が濃縮され、X線蛍光分光分析を使用して分析される。【選択図】図1
請求項(抜粋):
プレートであって、前記プレートを貫通する少なくとも一つのホールを有するプレート;及び
前記ホールを覆う膜であって、前記膜と垂直に配向された2,300eVのX線に対し少なくとも5%の半透明性を有する膜;
を備え、
前記ホールが前記膜と隣接する位置において、前記ホールが、前記膜と平行な少なくとも一つの寸法において約500マイクロメートル未満であることを特徴とするX線蛍光分光分析による測定用の一つ又はそれ以上の試料を調製する装置。
IPC (3件):
G01N 23/223
, G01N 1/28
, C12Q 1/68
FI (3件):
G01N23/223
, G01N1/28 W
, C12Q1/68 Z
Fターム (33件):
2G001AA01
, 2G001BA04
, 2G001CA01
, 2G001GA01
, 2G001HA13
, 2G001KA01
, 2G001LA01
, 2G001MA02
, 2G052AA28
, 2G052AB01
, 2G052AB18
, 2G052AD26
, 2G052AD46
, 2G052DA05
, 2G052DA12
, 2G052DA33
, 2G052GA19
, 4B029AA07
, 4B029BB15
, 4B029BB20
, 4B029CC08
, 4B029FA12
, 4B029GA03
, 4B029GB06
, 4B063QA01
, 4B063QQ42
, 4B063QQ52
, 4B063QQ79
, 4B063QR32
, 4B063QR35
, 4B063QR48
, 4B063QS39
, 4B063QX02
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (4件)