特許
J-GLOBAL ID：201403004561037010
フラッシュメモリをテストするための方法、システム、および、コンピュータで読み取り可能なコード
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大西 正悟
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-048160
公開番号（公開出願番号）：特開2012-146390
特許番号：特許第5442789号
出願日： 2012年03月05日
公開日（公表日）： 2012年08月02日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 フラッシュメモリのそれぞれのセルがシングルビットセル(SBC)およびマルチビットセル(MBC)の2つのモードで動作可能であるフラッシュメモリ・ダイ上に備えられたフラッシュメモリ、および前記フラッシュメモリ・ダイとは異なるフラッシュコントローラ・ダイ上に備えられたフラッシュコントローラを含む一つのフラッシュメモリ・デバイスをハウジングに包装し、組み立てるステップと、
複数個の前記フラッシュメモリ・デバイスをテストするステップであって、前記フラッシュメモリ・デバイスの各々に電力が供給された時に、前記フラッシュコントローラの各々が対応する前記フラッシュメモリ・ダイをテストするためのテスト・プログラムの実行を開始し、前記フラッシュメモリ・デバイスのセルを、第1試験段階では前記SBCモードで、第2試験段階では前記MBCモードでテストするステップと、
を含むデバイスの製造方法。
IPC (2件)：
G11C 29/12 ( 200 6.01)
, G06F 12/16 ( 200 6.01)
G11C 29/00 673 B
, G06F 12/16 330 A
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (11件)
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