特許
J-GLOBAL ID：201403063123287913
光断層撮像装置およびその制御方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
阿部 琢磨
, 黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-017659
公開番号（公開出願番号）：特開2014-147501
出願日： 2013年01月31日
公開日（公表日）： 2014年08月21日
要約：
【課題】 検者が、被検査物の断層画像の撮像範囲の大きさを指示すれば、意図した大きさの断層画像を容易に取得できること。【解決手段】 光断層撮像装置は、被検査物における複数の撮影部位(例えば、被検眼の前眼部の部位や被検眼の眼底の部位)のいずれかが選択され、該選択された撮影部位に対応する前記断層画像の撮像範囲の大きさに応じて、測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段を制御することができる。【選択図】 図9
請求項（抜粋）：
測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
前記被検査物における複数の撮影部位のいずれかを選択する選択手段と、
前記選択された撮影部位に対応する前記断層画像の撮像範囲の大きさに応じて、前記測定光光路長変更手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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