特許
J-GLOBAL ID：201403066627267041

寸法測定プログラム、寸法測定装置、及び、寸法測定方法

発明者：
佐藤 賢二

佐藤 賢二 について

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川口 翔太郎

川口 翔太郎 について

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西野 卓也

西野 卓也 について

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久保 守

久保 守 について


出願人/特許権者：
国立大学法人金沢大学

国立大学法人金沢大学 について


代理人 (1件)： 浅野 典子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-164640
公開番号（公開出願番号）：特開2014-025748
出願日： 2012年07月25日
公開日（公表日）： 2014年02月06日
要約：
【課題】斜めから撮影した場合であっても寸法の測定精度が低下することがなく、測定対象が直方体形状に限定されずに汎用性の高い寸法測定プログラムを提供する。【解決手段】マーカMkと測定対象Obとを含む撮影画像Pc1を取得するステップS1と、マーカの正面像を撮影したときの画像に含まれる少なくとも四つの点を基準点p1としたときに、基準点p1に対応する対応点p2を特定するステップS3と、対応点p2が基準点p1に位置するように撮影画像を透視投影変換するステップS4と、変換後の画像Pc2におけるマーカMkの座標と、実空間におけるマーカの寸法とから、変換後の画像のスケールを算出するステップS5と、スケールに基づいて寸法を算出するステップS6とを備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
測定対象の寸法の測定に使用される寸法測定プログラムにおいて、 マーカと測定対象とを含む撮影画像を取得する撮影画像取得ステップと、 前記マーカの正面像を撮影したときの画像に含まれる少なくとも四つの点を基準点としたときに、前記撮影画像取得ステップにて取得された撮影画像から、前記基準点に対応する対応点を特定する対応点特定ステップと、 前記対応点特定ステップにて特定された各対応点が、対応する前記基準点に位置するように透視投影変換するための変換パラメータを算出し、当該変換パラメータに基づいて前記撮影画像を透視投影変換する透視投影変換ステップと、 前記マーカの実空間における寸法を記憶手段から取得し、前記透視投影変換後の画像におけるマーカの座標と、前記実空間におけるマーカの寸法とから、前記透視投影変換後の画像のスケールを算出するスケール算出ステップと、 を含む処理をコンピュータに実行させることを特徴とする寸法測定プログラム。
IPC (1件)：
G01B 11/02
FI (1件)：
G01B11/02 H
Fターム (23件)：
2F065AA03 ,  2F065AA12 ,  2F065AA21 ,  2F065AA37 ,  2F065BB01 ,  2F065BB28 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF26 ,  2F065FF61 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL50 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ40 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  2F065UU09
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (8件)
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