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J-GLOBAL ID：201502209250984320   整理番号：15A0841888

軟X線分光法によって探った酸素空孔を含むTi_1-xFe_xO_2-δ薄膜の電子構造

Electronic structure of Ti_1-xFe_xO_2-δ thin films with oxygen vacancies probed by soft X-ray spectroscopy

著者 (10件)： USUI Katsuya (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  YAMAGUCHI Shohei (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  SUZUKI Naoya (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  SHIMAZU Yuichi (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  TSUCHIYA Takashi (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  SAKAI Enju (KEK, Ibaraki, JPN) ,  KOBAYASHI Masaki (KEK, Ibaraki, JPN) ,  HORIBA Koji (KEK, Ibaraki, JPN) ,  KUMIGASHIRA Hiroshi (KEK, Ibaraki, JPN) ,  HIGUCHI Tohru (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 54  号： 6S1  ページ： 06FJ07.1-06FJ07.4  発行年： 2015年06月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： c軸配向したTi_1-xFe_xO_2-δ薄膜の物理的特性と電子構造を,軟X線分光法によって研究した。Feの濃度が増すと,c軸方向の格子定数は増大することが分かった。また,FeイオンはFe²⁺およびFe³⁺の混合原子価状態で,高スピン配置を持つことが分かった。Fe置換による酸素空孔の影響で,無占有のTi 3d状態の強度は減少し,占有されたTi3d状態の強度は増大する。バンドギャップ内の電子構造は,Fe3dおよびTi3d状態によって構成され,下部Hubbardバンドの名残に対応している。電気伝導度と密接に関係するフェルミ準位における状態密度(DOS)はTi3d状態から成っている。高濃度にドープされたTi_1-xFe_xO_2-δ薄膜の電気伝導度は,Ti3d電子の電子相関のため減少することが分かった。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *X線分光法 ,  *軟X線 ,  *空格子点 ,  *酸化チタン ,  *ドーピング ,  *混合原子価 ,  格子定数 ,  濃度依存性 ,  鉄 ,  *電子構造 ,  *電気伝導率 ,  化合物半導体
準シソーラス用語： 軟X線分光法 ,  *酸素空孔 ,  電気伝導度

分類 (3件)： その他の無機化合物の電気伝導  (BM03044O) ,  X線スペクトル一般  (BM08101P) ,  半導体結晶の電子構造  (BM02060N)

引用文献 (36件)：

• Y. Furubayashi, T. Hitosugi, Y. Yamamoto, K. Inaba, G. Kinoda, Y. Hirose, T. Shimada, and T. Hasegawa, Appl. Phys. Lett. 86, 252101 (2005).
• T. Hitosugi, Y. Furubayashi, A. Ueda, K. Itabashi, K. Inaba, Y. Hirose, G. Kinoda, Y. Yamamoto, T. Shimada, and T. Hasegawa, Jpn. J. Appl. Phys. 44, L1063 (2005).
• J. Jaćimović, R. Gaál, A. Magrez, J. Piatek, L. Forró, S. Nakao, Y. Hirose, and T. Hasegawa, Appl. Phys. Lett. 102, 013901 (2013).
• H. Kamisaka, N. Mizuguchi, and K. Yamashita, J. Mater. Sci. 47, 7522 (2012).
• S. Okazaki, J. Ohkubo, S. Nakao, Y. Hirose, T. Hitosugi, and T. Hasegawa, Jpn. J. Appl. Phys. 51, 118003 (2012).

タイトルに関連する用語 (5件)： 軟X線 ,  分光法 ,  酸素空孔 ,  薄膜 ,  電子構造