特許

J-GLOBAL ID：201503010641109477

X線撮像装置及びX線撮像方法

発明者： 志村 考功 ,  渡部 平司 ,  細井 卓治 ,  森本 直樹 ,  藤野 翔
出願人/特許権者： 国立大学法人大阪大学
代理人 (1件)： 前井 宏之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-180597
公開番号（公開出願番号）：特開2015-047306
出願日： 2013年08月30日
公開日（公表日）： 2015年03月16日
要約：

【課題】小型化を実現できるX線撮像装置を提供する。【解決手段】X線撮像装置1は、X線源3と、回折格子5と、検出器7とを備える。X線源3は、X線xrを発生する。回折格子5には、X線xrが照射される。検出器7は、X線xrに基づく回折格子5の自己像を検出する。X線源3は、基板9と、複数のライン状金属11とを含む。複数のライン状金属11は、基板9に形成され、X線xrを発生する。複数のライン状金属11は、互いに平行に形成される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

X線を発生するX線源と、 前記X線が照射される回折格子と、 前記X線に基づく前記回折格子の自己像を検出する検出手段と を備え、 前記X線源は、 基板と、 前記基板に形成され、前記X線を発生する周期的に配列された複数の金属と を含む、X線撮像装置。

IPC (3件)：

A61B 6/00 ,  G01N 23/04 ,  H05G 1/00

FI (4件)：

A61B6/00 330Z ,  A61B6/00 300B ,  G01N23/04 ,  H05G1/00 C

Fターム (23件)：

2G001AA01 ,  2G001AA10 ,  2G001BA11 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001GA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA03 ,  2G001KA01 ,  4C092AA01 ,  4C092AB27 ,  4C092AB30 ,  4C092AC01 ,  4C092AC08 ,  4C092BD05 ,  4C092BD16 ,  4C093AA07 ,  4C093CA32 ,  4C093EA06 ,  4C093EA11 ,  4C093EB17

引用特許：

審査官引用 (2件)

• X線撮像装置、及び、これに用いるX線源
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-038181   出願人：国立大学法人東京大学
• 放射線位相画像撮影装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-084385   出願人：富士フイルム株式会社

引用文献：

審査官引用 (1件)

• Grating-Based X-ray Phase Imageing Using Multiline X-ray Source (Abstract)