特許
J-GLOBAL ID：201503020089691978
光線路波長測定システム及び光試験装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
岡田 賢治
, 今下 勝博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-214610
公開番号（公開出願番号）：特開2015-080020
出願日： 2013年10月15日
公開日（公表日）： 2015年04月23日
要約：
【課題】本発明は、ONUで反射された反射試験光を受信し、試験光を受信したタイミングに応じてONUを特定し、出射した試験光と反射試験光の波長とを比較することにより、各ONUの設定受信波長を検出することを目的とする。【解決手段】本発明は、光線路波長測定システムにおいて、スプリッタ3-2を介して光ファイバ伝送路で接続された複数のONU5に対し、各ONU5に設定された波長の試験光をスプリッタ3-2から送信し、各ONU5で反射された試験光の波長と当該ONU5の設定波長を比較する光試験装置と、各ONU5の波長可変フィルタ13の後段に配置され、波長可変フィルタ13を通過した試験光の一部をスプリッタ3-2へ向けて反射する反射端15とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
スプリッタを介して光ファイバ伝送路で接続された複数の子機に対し、各子機に設定された波長の試験光を前記スプリッタから送信し、各子機で反射された前記試験光の波長と当該子機の設定波長を比較する光試験装置と、
各子機の子機側波長可変フィルタの後段に配置され、前記子機側波長可変フィルタを通過した前記試験光の一部を前記スプリッタへ向けて反射する反射部と、
を備える光線路波長測定システム。
IPC (5件)：
H04B 10/071
, H04B 10/272
, G01M 11/00
, H04J 14/00
, H04J 14/02
H04B9/00 171
, H04B9/00 272
, G01M11/00 U
, H04B9/00 E
2G086DD05
, 5K102AD01
, 5K102AD11
, 5K102AL08
, 5K102AL12
, 5K102MH03
, 5K102MH13
, 5K102MH15
, 5K102MH22
, 5K102MH24
, 5K102PB13
, 5K102PB16
, 5K102PC12
, 5K102PC16
, 5K102PD14
, 5K102PH01
, 5K102PH49
, 5K102PH50
, 5K102RB02
, 5K102RB04
, 5K102RD02
