放射性廃棄体の検査装置および放射性廃棄体の検査方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：勝沼宏仁 , 佐藤泰和 , 川崎康 , 関根毅 , 松野知紘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-131941
公開番号（公開出願番号）：特開2015-007538
出願日： 2013年06月24日
公開日（公表日）： 2015年01月15日
要約：

【課題】大きなスペースを必要とせず、かつ、精度よく線量率検査を行うことが可能な放射性廃棄体の検査装置および放射性廃棄体の検査方法を提供する。【解決手段】放射性廃棄体の検査装置は、放射性廃棄体の表面汚染検査を行いながら、前記放射性廃棄体の凹凸情報を取得する表面汚染検査部と、前記凹凸情報を考慮して、前記放射性廃棄体の線量率検査を行う線量率検査部と、を備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

放射性廃棄体の表面汚染検査を行いながら、前記放射性廃棄体の凹凸情報を取得する表面汚染検査部と、前記凹凸情報を考慮して、前記放射性廃棄体の線量率検査を行う線量率検査部と、を備えることを特徴とする放射性廃棄体の検査装置。

IPC (1件)：

G01T 1/169

FI (2件)：

G01T1/169 A , G01T1/169 C

Fターム (6件)：

2G188AA15 , 2G188AA16 , 2G188DD16 , 2G188DD23 , 2G188DD24 , 2G188EE14

引用特許：

審査官引用 (9件)

表面汚染検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-095737 出願人：株式会社東芝
特開平2-285279
特開昭63-151884

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