特許
J-GLOBAL ID：201503034450519418

診断システムおよびエレベータ

発明者：
佐伯 崇

佐伯 崇 について

, 
湯田 晋也

湯田 晋也 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (3件)： 井上 学 ,  戸田 裕二 ,  岩崎 重美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-165734
公開番号（公開出願番号）：特開2015-035118
出願日： 2013年08月09日
公開日（公表日）： 2015年02月19日
要約：
【課題】正常と診断されるセンサデータを用いて、外れ値の影響を抑制できるよう学習データを更新し、経年劣化に追従できる診断システムおよびエレベータを提供する。【解決手段】診断対象機器に設置されたセンサからのデータであるセンサデータS10と診断用学習データS30とに基づいて前記診断対象機器の状態を診断する診断システム100、または、それを備えたエレベータにおいて、前記センサデータと前記診断用学習データとに基づいて前記診断対象機器の状態を診断する診断部10と、前記診断部で正常と診断されたときの前記センサデータを、予め保持している蓄積学習データ群に加え、前記蓄積学習データ群の中心とそれに近いものだけを残して遠いものを蓄積学習データ群から削除して前記蓄積学習データ群を更新し、更新された前記蓄積学習データ群から新たな前記診断用学習データを生成する学習データ更新部20とを有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
診断対象機器に設置されたセンサからのデータであるセンサデータと診断用学習データとに基づいて前記診断対象機器の状態を診断する診断システムにおいて、 前記センサデータと前記診断用学習データとに基づいて前記診断対象機器の状態を診断する診断部と、 前記診断部で正常と診断されたときの前記センサデータを、予め保持している蓄積学習データ群に加え、前記蓄積学習データ群の中心とそれに近いものだけを残して遠いものを蓄積学習データ群から削除して前記蓄積学習データ群を更新し、更新された前記蓄積学習データ群から新たな前記診断用学習データを生成する学習データ更新部とを有することを特徴とする診断システム。
IPC (4件)：
G05B 23/02 ,  B66B 1/06 ,  B66B 3/00 ,  B66B 5/00
FI (4件)：
G05B23/02 302R ,  B66B1/06 Z ,  B66B3/00 R ,  B66B5/00 G
Fターム (20件)：
3F002AA03 ,  3F002BB08 ,  3F002CA01 ,  3F002CA02 ,  3F002GA04 ,  3F002GA06 ,  3F002GA08 ,  3F002GB02 ,  3F303BA01 ,  3F303EA02 ,  3F303EA08 ,  3F304BA16 ,  3F304BA17 ,  3F304BA26 ,  3F304EA12 ,  3F304EA35 ,  5H223AA09 ,  5H223DD03 ,  5H223EE06 ,  5H223FF06
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (4件)
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