特許
J-GLOBAL ID：201503075198895116
3次元計測装置及び3次元計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡辺 三彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-150585
公開番号（公開出願番号）：特開2015-021862
出願日： 2013年07月19日
公開日（公表日）： 2015年02月02日
要約：
【課題】鏡面反射成分の強い計測対象物の場合にも、適切に3次元計測を行うことができる3次元計測装置及び3次元計測方法を提供する。【解決手段】パターン光を計測対象物2に投光するプロジェクタ3と、プロジェクタ3より前記パターン光が投光された計測対象物2をそれぞれ異なる方向から撮像する複数の撮像手段4と、プロジェクタ3とそれぞれの撮像手段4との間の校正を行う校正手段81と、それぞれの撮像手段4により撮像された画像に基づいて、それぞれ3次元点群を計測する3次元点群計測手段83と、3次元点群計測手段により計測されたそれぞれの3次元点群を校正手段により得られた校正結果に基づいて、パターン投光手段の座標系に射影し、それぞれの信頼度を比較することによりそれぞれの3次元点群の計測結果を統合する統合手段84と、を備える3次元計測装置1。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
パターン光を計測対象物に投光するパターン投光手段と、
前記パターン投光手段により前記パターン光が投光された前記計測対象物をそれぞれ異なる方向から撮像する複数の撮像手段と、
前記パターン投光手段と前記それぞれの撮像手段との間の校正を行う校正手段と、
前記それぞれの撮像手段により撮像された画像に基づいて、それぞれ3次元点群を計測する3次元点群計測手段と、
前記3次元点群計測手段により計測された前記それぞれの3次元点群を前記校正手段により得られた校正結果に基づいて、所定の座標系に射影し、それぞれの信頼度を比較することにより前記それぞれの3次元点群の計測結果を統合する統合手段と、を備えることを特徴とする3次元計測装置。
IPC (3件)：
G01B 11/25
, G01B 11/00
, G06T 1/00
G01B11/25 H
, G01B11/00 H
, G06T1/00 315
2F065AA04
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065DD04
, 2F065FF01
, 2F065FF04
, 2F065FF07
, 2F065FF09
, 2F065FF61
, 2F065HH06
, 2F065HH07
, 2F065HH12
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ08
, 2F065JJ26
, 2F065QQ04
, 2F065QQ08
, 2F065QQ21
, 2F065QQ23
, 2F065QQ25
, 2F065QQ31
, 2F065RR05
, 2F065SS02
, 5B057AA20
, 5B057DA20
, 5B057DB03
, 5B057DB09
, 5B057DC30
