特許
J-GLOBAL ID：201503078043719752
寸法計測装置、寸法計測方法、寸法計測システム、プログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西川 惠清
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-207635
公開番号（公開出願番号）：特開2015-072176
出願日： 2013年10月02日
公開日（公表日）： 2015年04月16日
要約：
【課題】対象物について精度のよい寸法図を生成することを可能にする。【解決手段】寸法計測装置10は、取得部11と面抽出部12と領域抽出部13と寸法生成部14とを備える。取得部11は、対象物20の3次元計測を行う計測装置30から対象物20に関する3次元の座標値を取得する。面抽出部12は、対象物20を構成している着目面を前記座標値に基づいて定め、かつ当該着目面の境界線の位置を抽出する。領域抽出部13は、着目面に付設されている特定の物体に相当する候補領域について、候補領域を囲むエッジの位置を抽出する。寸法生成部14は、前記境界線の位置と前記エッジの位置とから対象物20に関する寸法図の作成に必要な寸法データを生成する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
対象物の3次元計測を行う計測装置から前記対象物に関する3次元の座標値を取得する取得部と、
前記対象物を構成している着目面を前記座標値に基づいて定め、かつ当該着目面の境界線の位置を抽出する面抽出部と、
前記着目面に付設されている特定の物体に相当する候補領域について、前記候補領域を囲むエッジの位置を抽出する領域抽出部と、
前記境界線の位置と前記エッジの位置とから前記対象物に関する寸法図の作成に必要な寸法データを生成する寸法生成部とを備える
ことを特徴とする寸法計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B11/03 Z
, G06T1/00 315
2F065AA04
, 2F065AA12
, 2F065AA22
, 2F065AA23
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065CC14
, 2F065DD03
, 2F065FF01
, 2F065FF05
, 2F065FF09
, 2F065FF12
, 2F065FF13
, 2F065FF26
, 2F065FF32
, 2F065GG04
, 2F065HH05
, 2F065HH06
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065LL22
, 2F065MM11
, 2F065QQ21
, 2F065QQ25
, 2F065QQ27
, 2F065QQ29
, 2F065SS02
, 2F065SS06
, 2F065SS13
, 5B057CA13
, 5B057CB20
, 5B057DA08
, 5B057DC03
, 5B057DC09
, 5B057DC16
