特許
J-GLOBAL ID:201603010523862363

異物検出装置、及び異物検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人サンクレスト国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-206655
公開番号(公開出願番号):特開2016-075596
出願日: 2014年10月07日
公開日(公表日): 2016年05月12日
要約:
【課題】 粒子を含む粒子群の中に混入した異物を適切に検出することができる異物検出装置、及び異物検出方法を提供する。【解決手段】 異物検出装置3は、搬送部6aの上面6a1に載置されて搬送される、多数の粒子を含む粒子群Pの中の異物Fの有無を検出する。異物検出装置3は、搬送部6aの上方から粒子群Pに向けて粒子の平均粒径と同等又は当該平均粒径よりも長い波長の電磁波を照射する電磁波照射部10と、搬送部6aの下方に配置され、粒子群P及び搬送部6aを通過した電磁波を検出する検出部11と、粒子群Pの搬送中に検出部11の出力に現れる変化に基づいて、粒子群Pの中の異物Fの有無を判定する判定部としての制御部12とを備えている。検出部11は、電磁波を検出可能な検出素子である検出素子16を備え、検出素子16の検出面16aと、搬送部6aの上面6a1との間の距離が電磁波照射部10が照射する電磁波の波長と同等又は当該波長よりも短い値に設定されている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
搬送部材の上面に載置されて搬送される、多数の粒子を含む粒子群の中の異物の有無を検出する異物検出装置であって、 前記搬送部材の上方から前記粒子群に向けて前記粒子の平均粒径と同等又は当該平均粒径よりも長い波長の電磁波を照射する照射部と、 前記搬送部材の下方に配置され、前記粒子群及び前記搬送部材を通過した電磁波を検出する検出部と、 前記粒子群の搬送中に前記検出部の検出値に現れる変化に基づいて、前記粒子群の中の異物の有無を判定する判定部と、を備え、 前記検出部は、前記電磁波を検出可能な検出素子を備え、前記検出素子の検出面と、前記搬送部材の上面との間の距離が前記電磁波の波長と同等又は当該波長よりも短い値に設定されている異物検出装置。
IPC (1件):
G01V 3/12
FI (1件):
G01V3/12 A
Fターム (6件):
2G105AA01 ,  2G105BB15 ,  2G105CC03 ,  2G105DD02 ,  2G105EE06 ,  2G105HH05
引用特許:
出願人引用 (6件)
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