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J-GLOBAL ID：201702215442341342   整理番号：17A1002981

熱雑音抑制型サンプルホールド回路を用いたイオン飛行時間計測用SOIイメージセンサ

SOI image sensor for ion flight time measurement using thermal noise suppressing sample hold circuit

著者 (9件)： NA Seokjin (北大 大学院情報科学研究科) ,  池辺将之 (北大 大学院情報科学研究科) ,  横山紗由里 (大阪大 大学院工学研究科) ,  高前田伸也 (北大 大学院情報科学研究科) ,  本村真人 (北大 大学院情報科学研究科) ,  浅井哲也 (北大 大学院情報科学研究科) ,  間久直 (大阪大 大学院工学研究科) ,  藤田陽一 (高エネルギー加速器研究機構) ,  新井康夫 (高エネルギー加速器研究機構)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 117  号： 166(SDM2017 31-49)  ページ： 35-38  発行年： 2017年07月24日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： バイオ・医療分野では,様々な物質の質量毎の空間分布の同時測定技術は,病理研究や迅速な病理診断などへの応用が期待できる。イメージング質量分析において,イオンの衝突位置と時間を同時に高空間分解能・高時間分解能かつ高頻度で検出可能なイオン時間計測センサの開発が重要である。本研究では,ランプ信号からイオン到達時間に即した電圧レベルを取得するピクセルの開発を行う。このとき,熱雑音のホールドが問題となる。そこで,ランプ信号とソフトリセット機構を連動させて熱雑音を抑制する機構を提案する。SOIプロセスにより,サイズ20μm x 20μmのピクセル回路を設計した。(著者抄録)

シソーラス用語： *熱雑音 ,  *雑音発生防止 ,  *サンプル・ホールド回路 ,  *AD変換器 ,  *飛行時間法 ,  空間分布 ,  *同時計測 ,  *イメージセンサ ,  臨床検査 ,  *質量分析 ,  *画像処理 ,  *イオン衝突 ,  位置測定 ,  時間測定 ,  高分解能 ,  空間分解能 ,  SOI構造 ,  半導体プロセス ,  画素 ,  回路設計 ,  *イメージング質量分析 ,  病理検査
準シソーラス用語： *時間ディジタル変換器 ,  病理診断

分類 (3件)： 撮像・録画装置  (ND12032E) ,  質量分析計  (BD02060M) ,  AD・DA変換回路  (NC05080M)

引用文献 (7件)：

• H. Hazama et al., Journal of Biomedical Optics 16, 046007 (2011).
• J. Aoki, H. Hazama, and M. Toyoda, Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan 59, 57 (2011).
• Y. Arai, M. Ikeno, M. Sagara, and T. Emura, IEEE Transactions on Nuclear Science 45, 735 (1998).
• 黒田隆男, イメージセンサの本質と基礎. コロナ社, 2012年
• 川人ら 「SOIピクセルイメージセンサと科学計測応用」 映像情報メディア学会技術報告 3月

タイトルに関連する用語 (7件)： 熱雑音 ,  サンプルホールド回路 ,  イオン ,  飛行時間 ,  計測 ,  SOI ,  イメージセンサ