文献

J-GLOBAL ID：201702217398021913   整理番号：17A1003225

ダイヤモンドの浅い窒素空孔中心の電荷安定性に及ぼすラジカル曝露窒化表面の影響

Effect of a radical exposure nitridation surface on the charge stability of shallow nitrogen-vacancy centers in diamond

著者 (19件)： KAGEURA Taisuke (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  KATO Kanami (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  YAMANO Hayate (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  SUAEBAH Evi (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  KAJIYA Miki (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  KAWAI Sora (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  INABA Masafumi (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  TANII Takashi (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  HARUYAMA Moriyoshi (National Inst. for Quantum and Radiological Sci. and Technol., Gunma, JPN) ,  HARUYAMA Moriyoshi (Gunma Univ., Gunma, JPN) ,  YAMADA Keisuke (National Inst. for Quantum and Radiological Sci. and Technol., Gunma, JPN) ,  ONODA Shinobu (National Inst. for Quantum and Radiological Sci. and Technol., Gunma, JPN) ,  KADA Wataru (Gunma Univ., Gunma, JPN) ,  HANAIZUMI Osamu (Gunma Univ., Gunma, JPN) ,  TERAJI Tokuyuki (National Inst. for Materials Sci., Ibaraki, JPN) ,  ISOYA Junichi (Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN) ,  KONO Shozo (Kagami Memorial Res. Inst. for Materials Sci. and Technol., Tokyo, JPN) ,  KAWARADA Hiroshi (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  LIST Hide full author (Kagami Memorial Res. Inst. for Materials Sci. and Technol., Tokyo, JPN)
資料名： Applied Physics Express  (Applied Physics Express)
巻： 10  号： 5  ページ： 055503.1-055503.4  発行年： 2017年05月 
JST資料番号： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面近くの負に帯電した窒素空孔(NV^-)中心の安定化のために,高周波プラズマから離れて窒素ラジカルを曝露をしたダイヤモンド表面の窒化プロセスを示した。0.9単分子層の高い窒素被覆率では,1keVと2keVの加速電圧を用いた浅い窒素注入で形成した単一のNV^-中心に対してそれぞれ0.40±0.06と0.46±0.03の高い平均Rabiコントラストが得られた。これは,交互に成端した表面に対して得られた状態と比較して,ラジカル曝露処理による窒素成端が単一NV^-中心に適した電荷状態が表面で生成することを示す。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *ダイヤモンド ,  *空格子点 ,  安定性 ,  窒化 ,  状態 ,  電荷 ,  *ラジカル ,  照射 ,  X線光電子スペクトル ,  光ルミネセンス ,  振動
準シソーラス用語： Rabi振動 ,  ラジカル照射 ,  *窒素空格子点 ,  電荷安定性 ,  電荷状態

分類 (1件)： 半導体の格子欠陥  (BK12040Q)

引用文献 (18件)：

• M. W. Doherty, N. B. Manson, P. Delaney, F. Jelezko, J. Wrachtrup, and L. C. L. Hollenberg, Phys. Rep. 528, 1 (2013).
• T. Yamamoto, T. Umeda, K. Watanabe, S. Onoda, M. L. Markham, D. J. Twitchen, B. Naydenov, L. P. McGuinness, T. Teraji, S. Koizumi, F. Dolde, H. Fedder, J. Honert, J. Wrachtrup, T. Ohshima, F. Jelezko, and J. Isoya, Phys. Rev. B 88, 075206 (2013).
• C. Müller, X. Kong, J.-M. Cai, K. Melentijevic, A. Stacey, M. Markham, D. Twitchen, J. Isoya, S. Pezzagna, J. Meijer, J. F. Du, M. B. Plenio, B. Naydenov, L. P. McGuinness, and F. Jelezko, Nat. Commun. 5, 4703 (2014).
• I. Aharonovich, S. Castelletto, D. A. Simpson, C.-H. Su, A. D. Greentree, and S. Prawer, Rep. Prog. Phys. 74, 076501 (2011).
• A. O. Sushkov, I. Lovchinsky, N. Chisholm, R. L. Walsworth, H. Park, and M. D. Lukin, Phys. Rev. Lett. 113, 197601 (2014).

タイトルに関連する用語 (7件)： ダイヤモンド ,  窒素空孔中心 ,  電荷 ,  安定性 ,  ラジカル ,  曝露 ,  窒化