特許
J-GLOBAL ID：201703001457267686

X線検出装置

発明者：
後藤 智

後藤 智 について

, 
青山 朋樹

青山 朋樹 について


出願人/特許権者：
株式会社堀場製作所

株式会社堀場製作所 について


代理人 (2件)： 河野 登夫 ,  河野 英仁
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-091312
公開番号（公開出願番号）：特開2013-221745
特許番号：特許第6096419号
出願日： 2012年04月12日
公開日（公表日）： 2013年10月28日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 試料支持部と、該試料支持部が支持する試料へX線を照射するX線照射部と、前記試料から発生するX線を検出するX線検出器と、前記X線照射部が試料へ照射するX線を絞るコリメータとを備えるX線検出装置において、 前記X線照射部のX線の出射口と前記X線検出器のX線の入射口とを前記試料支持部の共通する所定の部分に向けて、前記X線照射部及び前記X線検出器を配置してあり、 前記出射口と前記入射口とを結んだ経路を通るX線、及び前記コリメータの任意の部分と前記入射口とを結んだ経路を通るX線を遮蔽する遮蔽体を備え、 該遮蔽体は、 前記出射口と前記入射口とを結んだ経路を通るX線を遮蔽する第1遮蔽部材、並びに該第1遮蔽部材及び前記コリメータと前記入射口とを結んだ経路を通るX線を遮蔽する第2遮蔽部材を有すること を特徴とするX線検出装置。
IPC (1件)：
G01N 23/223 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01N 23/223
引用特許：
出願人引用 (12件)
  • 特開昭47-037696
  • 蛍光X線分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-273158   出願人：理学電機工業株式会社
  • 蛍光X線分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-235468   出願人：理学電機工業株式会社
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審査官引用 (16件)
  • 蛍光X線分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-235468   出願人：理学電機工業株式会社
  • 特開昭47-037696
  • X線回折装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-216606   出願人：理学電機株式会社
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