特許
J-GLOBAL ID：201703010109126075

検体分析装置

発明者：
正村 美樹夫

正村 美樹夫 について


出願人/特許権者：
日本光電工業株式会社

日本光電工業株式会社 について


代理人 (1件)： 本田 崇
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-057905
公開番号（公開出願番号）：特開2014-182067
特許番号：特許第6039475号
出願日： 2013年03月21日
公開日（公表日）： 2014年09月29日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 吸引管を垂直方向に上下移動させる第1の駆動手段と、 表面がシールにより封止された検体分析に用いるセルを有する試薬カートリッジを保持するホルダを、第1の線分上をこの第1の線分の方向に往復運動させる第3の駆動手段と、 前記吸引管を垂直方向と直交する平面において前記第1の線分と直交する第2の線分との交点を通るように回転させる第2の駆動手段と、 前記回転の回転中心から前記交点まで延びる前記第2の線分を基準線として、前記吸引管と前記回転中心とを結ぶ線が前記基準線となす旋回角度が第1の角度となるように前記第2の駆動手段を制御すると共に、前記試薬カートリッジのセルが前記吸引管の直下に位置付けられるように前記第3の駆動手段を制御し、更に、前記第1の駆動手段を制御して前記吸引管を下降させて圧抜孔を穿孔し、前記第2の駆動手段及び前記第3の駆動手段を制御して前記吸引管の直下位置を前記セルの前記圧抜孔と異なる位置に位置付け、前記第1の駆動手段を制御して前記吸引管を下降させて作業孔を穿孔する制御手段と を具備したことを特徴とする検体分析装置。
IPC (3件)：
G01N 35/10 ( 200 6.01) ,  G01N 35/04 ( 200 6.01) ,  G01N 35/02 ( 200 6.01)
FI (3件)：
G01N 35/10 C ,  G01N 35/04 G ,  G01N 35/02 B
引用特許：
審査官引用 (7件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM