がいし類の汚損の計測方法、計測装置、及び計測プログラム

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：村瀬一美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-090859
公開番号（公開出願番号）：特開2017-198593
出願日： 2016年04月28日
公開日（公表日）： 2017年11月02日
要約：

【課題】がいし類の表面の付着塩分を、遠隔で且つ迅速に、レーザー誘起ブレイクダウン分光を用いて定量的に計測することができるようにする。【解決手段】がいし類の表面にパルスレーザー光が照射されて受光される発光スペクトルが用いられて発光波長が818.33 nm のNaの発光強度と819.48 nm のNaの発光強度とのうちの少なくとも一方が計算され、前記発光波長の発光強度と塩分付着密度との検量線が用いられてがいし類の塩分付着密度が求められるようにした。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

がいし類の表面にパルスレーザー光が照射されて受光される発光スペクトルが用いられて発光波長が818.33 nm のNaの発光強度と819.48 nm のNaの発光強度とのうちの少なくとも一方が計算され、前記発光波長の発光強度と塩分付着密度との検量線が用いられて前記がいし類の塩分付着密度が求められることを特徴とするがいし類の汚損の計測方法。

IPC (2件)：

G01N 21/63 , G01R 31/12

FI (2件)：

G01N21/63 A , G01R31/12 C

Fターム (31件)：

2G015AA20 , 2G015BA10 , 2G015CA21 , 2G043AA01 , 2G043BA01 , 2G043BA06 , 2G043BA07 , 2G043CA05 , 2G043EA10 , 2G043FA01 , 2G043FA05 , 2G043FA06 , 2G043HA01 , 2G043HA05 , 2G043HA15 , 2G043JA04 , 2G043JA08 , 2G043KA01 , 2G043KA02 , 2G043KA05 , 2G043KA08 , 2G043KA09 , 2G043LA02 , 2G043LA03 , 2G043MA16 , 2G043NA04 , 2G043NA06 , 2G043NA11 , 2G043NA12 , 2G043NA13 , 2G043NA14

引用特許：

審査官引用 (5件)

前照兼赤外暗視装置および前照兼赤外暗視システム
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-326941 出願人：ハリソン東芝ライティング株式会社
メタルハライドランプおよびメタルハライドランプ点灯装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-424941 出願人：東芝ライテック株式会社, ハリソン東芝ライティング株式会社
金属表面付着成分の濃度計測方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2011-144134 出願人：財団法人電力中央研究所

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引用文献：

審査官引用 (1件)

レーザーを用いた碍子表面塩分計測

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