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J-GLOBAL ID:201802231001130947   整理番号:18A2161639

有機金属気相エピタクシーによりホモエピタキシャル成長させたSchottky障壁ダイオードのための高純度c面およびm面GaN層の比較

Comparing high-purity c- and m-plane GaN layers for Schottky barrier diodes grown homoepitaxially by metalorganic vapor phase epitaxy
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巻: 57  号: 10  ページ: 105501.1-105501.6  発行年: 2018年10月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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GaN垂直Schottky障壁ダイオード(SBD)を,石英フリー流路(FC)を用いて,有機金属気相エピタクシー(MOVPE)によりm面GaN基板上に成長させた。石英FCを使って従来の反応器を用いて得られた濃度と比較して,石英フリーFCの使用は,シリコンおよび炭素の不純物濃度をそれぞれ2倍及び10倍減少させた。酸素濃度は層厚の増加と共に減少することが分かった。同じ成長条件下でc面GaN基板上に成長させたものと同様にm面GaN基板上に成長させたエピタキシャル層に対して同じ不純物濃度を達成した。不純物濃度を下げることにより,意図的にドープされていないGaNの高い抵抗率を達成した。さらに,m面GaNにおける低不純物濃度の更なる理解のために,n型GaNをm面GaN基板とドリフト層の間に挿入した。結果は,c面及びm面破壊電圧と漏れ電流が類似の傾向を持つことを明らかにした。(翻訳著者抄録)
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半導体薄膜 

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