特許
J-GLOBAL ID:201803015202254643
光学的測距装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人YKI国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-228620
公開番号(公開出願番号):特開2014-081254
特許番号:特許第6225411号
出願日: 2012年10月16日
公開日(公表日): 2014年05月08日
請求項(抜粋):
【請求項1】 照射光の投光時刻と反射光の受光時刻との差に基づいて距離を測定する光学的測距装置であって、
パルス光を投光する光源と、
物体からの光を受光するフォトンカウント型の測定受光素子を備えた感度が可変の測定受光手段と、
投光方向と受光方向を走査する走査手段と、
前記走査手段により前記測定受光手段が次回測定する領域からの光であって、前記照射光として投光された光以外の光のみを受光する参照受光素子を備えた参照受光手段と、
前記参照受光手段の受光量に応じて前記測定受光手段の感度を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする光学的測距装置。
IPC (2件):
G01S 17/10 ( 200 6.01)
, G01S 7/481 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01S 17/10
, G01S 7/481 A
引用特許:
出願人引用 (6件)
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レーザスキャン装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-304377
出願人:オムロン株式会社
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光検出器
公報種別:公開公報
出願番号:特願2010-203352
出願人:株式会社豊田中央研究所
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測距装置および測距方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-170776
出願人:株式会社ニコンビジョン
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審査官引用 (6件)
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レーザスキャン装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-304377
出願人:オムロン株式会社
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光検出器
公報種別:公開公報
出願番号:特願2010-203352
出願人:株式会社豊田中央研究所
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測距装置および測距方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-170776
出願人:株式会社ニコンビジョン
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