文献
J-GLOBAL ID：201902211752307040   整理番号：19S0474938

A low capture power test generation method using capture safe test vectors

  • 出版者サイト 複写サービスで全文入手
  • 高度な検索・分析はJDreamⅢで
著者 (4件)：
Hirai, Atsushi

Hirai, Atsushi について

(Graduate School of Industrial Technology, Nihon University)

Graduate School of Industrial Technology, Nihon University について

, 
Yamauchi, Yukari

Yamauchi, Yukari について

(College of Industrial Technology, Nihon University)

College of Industrial Technology, Nihon University について

, 
Hosokawa, Toshinori

Hosokawa, Toshinori について

(College of Industrial Technology, Nihon University)

College of Industrial Technology, Nihon University について

, 
Arai, Masayuki

Arai, Masayuki について

(College of Industrial Technology, Nihon University)

College of Industrial Technology, Nihon University について


資料名：
Proceedings - 2015 20th IEEE European Test Symposium, ETS 2014

Proceedings - 2015 20th IEEE European Test Symposium, ETS 2014 について


発行年： 2015年 
JST資料番号： SCOPUS  ISBN： 9781479976034 
発行国： アメリカ (USA)  言語： 英語 (EN)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM