特許
J-GLOBAL ID：201903019769881633
質量分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
長谷川 芳樹
, 黒木 義樹
, 柴山 健一
, 岡▲崎▼ 大志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-247968
公開番号（公開出願番号）：特開2019-049575
出願日： 2018年12月28日
公開日（公表日）： 2019年03月28日
要約：
【課題】試料の位置情報を維持したまま試料のイオン化を行うことができる質量分析装置を提供する。【解決手段】質量分析装置100は、複数の貫通孔Sが設けられた基板21と、少なくとも一面21aにおいて貫通孔Sが設けられていない部分を覆う導電層23と、を備える試料支持体2であって、他面21b側に配置された試料10を毛細管現象によって複数の貫通孔Sを介して他面21bから一面21aに移動させるための実効領域Rを有する試料支持体2を用いて質量分析を行う。質量分析装置100は、導電性を有し、試料支持体2と電気的に接続されると共に、基板21の厚み方向から見て試料10が実効領域Rと重なり、且つ、他面21bが試料10に対向するように、試料10及び試料支持体2が載置される試料台1と、一面21a側から実効領域Rにレーザを照射するレーザ照射部4と、レーザの照射によりイオン化された試料を検出する検出器3と、を備える。【選択図】図9
請求項（抜粋）：
一面から他面にかけて貫通する複数の貫通孔が設けられた基板と、導電性材料からなり、少なくとも前記一面において前記貫通孔が設けられていない部分を覆う導電層と、を備える試料支持体であって、前記他面側に配置されたイメージング質量分析の対象となる薄膜状の試料を毛細管現象によって前記複数の貫通孔を介して前記他面から前記一面に移動させるための領域として機能する実効領域を有する前記試料支持体を用いて質量分析を行うための質量分析装置であって、
導電性を有し、前記試料支持体と電気的に接続されると共に、前記基板の厚み方向から見て前記試料が前記実効領域と重なり、且つ、前記基板の前記他面が前記試料に対向するように、前記試料及び前記試料支持体が載置される試料台と、
前記一面側から前記実効領域にレーザを照射するレーザ照射部と、
前記レーザの照射によりイオン化された前記試料を検出する検出部と、を備える、質量分析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (7件)：
2G041CA01
, 2G041CA02
, 2G041DA03
, 2G041EA03
, 2G041FA12
, 2G041GA06
, 2G041JA06
