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J-GLOBAL ID：202002264126700887   整理番号：20A1395325

透過型電子顕微鏡による浮遊グラフェンナノリボンのその場電気伝導率測定

In-situ Electrical Conductance Measurement of Suspended Graphene Nanoribbon by Transmission Electron Microscopy

著者 (6件)： LIU Chunmeng (北陸先端大先端) ,  Zhang Xiaobin (芝浦工大) ,  Muruganathan Manoharan (北陸先端大先端) ,  水田博 (北陸先端大先端) ,  水田博 (日立ケンブリッジ研) ,  大島義文 (北陸先端大先端)
資料名： 日本表面真空学会学術講演会要旨集(Web)
巻： 2019  ページ： 3Bp03S(J-STAGE)  発行年： 2019年 
JST資料番号： U1883A  ISSN： 2434-8589  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *透過型電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  浮体 ,  *グラフェン ,  *ナノ構造 ,  リボン結晶 ,  *電気伝導率 ,  バンドギャップ ,  半導体 ,  電子ビームリソグラフィー ,  *グラフェンナノリボン ,  透過型電子顕微鏡法 ,  現場測定
準シソーラス用語： その場測定

分類 (3件)： 半導体結晶の電気伝導  (BM03043X) ,  原子・分子のクラスタ  (BH09030O) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 透過型電子顕微鏡 ,  浮遊 ,  グラフェンナノリボン ,  電気伝導率