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J-GLOBAL ID：202002283649382686   整理番号：20A2238982

オージェ電子分光装置を用いたL1₀-Fe_xNi_1-xのin-situ組成依存性解析

In-situ composition dependence analysis of L1₀-Fe_xNi_1-x using auger electron spectroscopy

著者 (10件)： 荒巻智隼 (東京理大 基礎工) ,  熊谷卓也 (東京理大 基礎工) ,  齋藤彪我 (東京理大 基礎工) ,  中尾太一 (東京理大 基礎工) ,  宮下拓也 (東京理大 基礎工) ,  伊藤久晃 (東京理大 基礎工) ,  宮町俊生 (東大 物性研) ,  小森文夫 (東大 物性研) ,  小金澤智之 (JASRI) ,  小嗣真人 (東京理大 基礎工)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 67th  ページ： ROMBUNNO.14p-PA1-7  発行年： 2020年02月28日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： Society5.0の実現に向けて,省資源かつ高密度な情報記録デバイスが求められている。この実現には,レアメタルフリーかつ高い磁気異方性を示す磁性材料が有用であり,L10型FeNi合金[1]に近年高い注目が集まっている。最近の研究により、...【本文一部表示】

シソーラス用語： Augerスペクトル ,  X線回折 ,  結晶構造 ,  磁気異方性 ,  磁力計 ,  超伝導 ,  薄膜 ,  *鉄 ,  *ニッケル ,  磁性材料 ,  X線回折分析 ,  多層膜 ,  薄膜成長 ,  *Auger分光法 ,  インタリーブ ,  パルスレーザ蒸着
準シソーラス用語： 薄膜形成 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 電子・磁気・光学記録  (NC06020F) ,  磁気的性質  (WB02020J)

タイトルに関連する用語 (3件)： オージェ電子分光 ,  組成依存性 ,  解析