特許
J-GLOBAL ID：202103016451231191
電磁波測定装置および電磁波測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
特許業務法人ワンディーIPパートナーズ
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-127308
公開番号（公開出願番号）：特開2017-015703
特許番号：特許第6936560号
出願日： 2016年06月28日
公開日（公表日）： 2017年01月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】周波数の異なる第1のプローブ光と第2のプローブ光とを含む複数のプローブ光を出力する光源と、
前記光源からの前記複数のプローブ光、および電磁波を受ける電気光学プローブと、
前記電気光学プローブから出力された光を受け、通過帯域外の周波数成分を減衰させる光フィルタと、
前記光フィルタを通過した光を電気信号に変換する受光素子とを備え、
前記電気光学プローブは、
電気光学結晶と、
前記電気光学結晶と光学的に結合された光ファイバとを備え、
前記電気光学結晶の固有軸の方向と前記電気光学結晶へ入射される前記光ファイバからの光の偏波方向とが沿うように設けられており、
前記電気光学プローブは、前記複数のプローブ光および前記電磁波に基づいて、複数のサイドバンド光を生成し、生成した前記複数のサイドバンド光および前記複数のプローブ光を出力し、
前記光フィルタは、前記通過帯域外の周波数成分として、前記第1のプローブ光と、前記第2のプローブ光および前記電磁波に基づいて生成された1つの前記サイドバンド光と、を除く周波数成分を減衰させる、電磁波測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
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